Page 6 - MERLAB
P. 6
Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM)
Taramalı Elektron Mikroskopu (SEM) cihazı ile görüntüleme, numuneye gönderilen hızlandırılmış elektronların numunenin atomları ile etkileşmesi sonucunda saçılan elektronların çeşitli detektörler yardımıyla analiz edilmesi esasına dayanır. Bu saçılmaların değerlendirilmesi ile malzeme içerisindeki yapıların mikro(10- 6m) ve nano(10-9m) mertebesinde görüntüleme analizi yapılabilmektedir.
Ayrıca numune içerisinde nitel ve nicel elementel analizi yapılabilmekte olup haritalandırma tekniği ile elementlerin dağılımı izlenebilmektedir.
Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM) cihazı temel bilimler, malzeme mühendisliği, endüstri, yaşam bilimi, doğal kaynaklar, elektronik, enerji, biyoteknoloji ve nanoteknoloji gibi birçok alanda bilimsel araştırmalar ve malzeme geliştirilmesinde yaygın bir şekilde kullanılmaktadır.
2
Carl Zeiss 300VP SEM Cihazı Kaplama (QUORUM Q150 RES) ve Kurutma cihazları
