Page 29 - E-Modul Interferensi & Difraksi

Analisa Struktur Kristal ‘Spektroskopi difraksi sinar-X(X-

ray difraction/XRD)’
Difraksi Sinar X merupakan teknik yang digunakan dalam

karakteristik material untuk mendapatkan informasi tentang
ukuran atom dari material kristal maupun nonkristal (Lusty,

2011). Difraksi tergantung pada struktur kristal dan panjang

gelombangnya. Jika panjang gelombang jauh lebih dari pada
ukuran atom atau konstanta kisi kristal maka tidak akan

terjadi peristiwa difraksi karena sinar akan dipantulkan

sedangkan jika panjang gelombangnya mendekati atau lebih
kecil dari ukuran atom atau kristal maka akan terjadi

peristiwa difraksi. Ukuran atom dalam orde angstrom (Å)
maka supaya terjadi peristiwa difraksi maka panjang

gelombang dari sinar yang melalui kristal harus dalam orde

angstrom (Å).
Metode yang digunakan dslam menentukan struktur Kristal

dengan difraksi sinar–X ini terdiri dari metode Kristal tunggal
dan metode serbuk. Pada metoda Kristal tunggal, sebuah

kristal yang berkualitas baik diletakkan sedemikian rupa

sehingga dapat berotasi pada salah satu sumbu kristalnya.
Ketika kristal itu diputar pada salah satu sumbu putar,

seberkas sinar X monokromatik dipancarkan ke arah kristal.

Jika seberkas sinar-X di jatuhkan pada sampel kristal, maka
bidang kristal itu akan membiaskan sinar-X yang memiliki

panjang gelombang sama dengan jarak antar kisi dalam kristal

tersebut. Sinar yang dibiaskan akan ditangkap oleh detektor
kemudian diterjemahkan sebagai sebuah puncak difraksi.

Makin banyak bidang kristal yang terdapat dalam sampel,
makin kuat intensitas pembiasan yang dihasilkannya.