Page 37 - февраль
P. 37

СОВЕТЫ СПЕЦИАЛИСТОВ
    и  низкоэнергетичного  ионного  ассистирова-                   мую поверхность составил 0,25 А. Ранее
    ния. В этом случае эффективно использование                    в  исследованиях  было  установлено,  что
    цилиндрической  МРС  с  несбалансированной                     при повышении расхода газа через анод
    магнитной системой. В настоящее время нами                     УАС (или при понижении разрядного на-
    разрабатывается  и  исследуется  ЦМРС  подоб-                  пряжения ниже определённых значений)
    ного  типа.  Однако  незавершённость  разра-                   ускорительный  режим  УАС  «срывается»
    ботки  этой  конструкции  и  срочный  характер                 и ускоритель ионов начинает работать в
    поставленной  задачи  заставил  искать  другое                 режиме  генерации  плазмы.  Плазмой  за-
    техническое решение.                                           полняется  пространство  между  подлож-
            Для предварительной ионной подготовки                  кой  и  АИИ,  чем  создаются  условия  для
    и ионного ассистирования нами использовался                    реализации  режима  ионного  ассисти-
    автономный  источник  газоразрядной  плазмы.                   рования.  При  напряжении  смещения  на
    Конструктивная схема интегрированного плаз-                    подложке  60  В  поверхность  подложки
    менного устройства включала КМРС и автоном-                    бомбардируется низкоэнергетичными ио-
    ный  ионный  источник  (АИИ),  расположенные                   нами,  ассистирующими  процесс  конден-
    соосно  в  полости  обрабатываемого  изделия                   сации ионно-плазменного покрытия.
    (рис.  2б).  В  качестве  АИИ  был  использован                       В  настоящей  работе  представлены
    ионный источник с узким анодным слоем (УАС                     результаты  разработки  индивидуальных
    типа  «Радикал»).  В  отличие  от  «Радикала»,                 и интегрированных плазменных техноло-
    выходная апертура аксиальной магнитной си-                     гические устройств, позволяющих нано-
    стемы УАС находилась не на плоской торцевой                    сить  покрытия  различной  архитектуры,
    поверхности  магнитных  полюсов,  а  на  кони-                 состава и назначения на внутренние ра-
    ческой поверхности (рис. 2б). Таким образом                    бочие  поверхности  деталей  значитель-
    формировался сильно расходящийся поток га-                     ной длины и диаметра (от 20 мм и более),
    зовых  ионов,  который  облучал  поверхность                   выполненных  из  ферромагнитных  и  не-
    конденсации  покрытия  высокоэнергетичными                     ферромагнитных конструкционных мате-
    газовыми ионами. При разрядном напряжении                      риалов.
    УАС U = 1500 В ионный ток на обрабатывае-



                                                                                                         А. Д. Гришкевич.
                                                                               Институт технической механики Национальной
                                                                      академии наук Украины и Государственного космического
                                                                                        агентства Украины, Днепропетровск.



    Литература:
    1. Патент на изобретение № 38845U, Украина, МПК С23С 14/00. Плазменное устройство/Гришкевич А.Д., заявитель и патентобладатель
    Институт технической механики НАНУ и ГКАУ. – u200808700, заявл. 01.07.2008, опубл. 26.01.2009, Бюл. № 2 – 4 с.
    2. Патент на изобретение № 93471, Украина, МПК С23С 14/35, 14/56. Ионно-плазменная установка/Гришкевич А.Д., Гринюк С.И., заяви-
    тель и патентобладатель Институт технической механики НАНУ и ГКАУ. – а201005669; заявл. 11.05.2010, опубл. 10.02.2010, Бюл. № 23
    – 4 с.
    3. Патент на изобретение № 93833U, Украина, МПК С23С 14/00. Ионно-плазменное устройство «гибридного» типа/Гришкевич А.Д., заяви-
    тель и патентобладатель Институт технической механики НАНУ и ГКАУ. –a201005613, заявл. 11.05.2010, опубл.10.03.2011, Бюл. № 5 – 4 с.




                                                                                                  Станочный парк        37
   32   33   34   35   36   37   38   39   40   41   42